涂层测厚仪(统计型) CM-8855

涂层测厚仪(统计型) CM-8855

涂层测厚仪是一种便携式测厚仪,能快速、无损伤、精密地测量涂层、镀层的厚度;可用于工程现场,也可用于实验室,通过不同探头的使用,更可满足多种测量需求;广泛应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;是材料保护专业的仪器。
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* 可以储存 99 组测量数据;通过测出平均值,最大值和最小值实现仪器的统计功能。

* 铁基和非铁基两用涂层测厚仪。

* 具有单次和连续两种测量方式可选。

* 公/英制单位转换。

* 具有手动关机、自动关机和欠压提示等功能。

* 自动记忆校准值和自动识别被测基体的材质。

* 操作过程中有蜂鸣器提示音, 连续测量时蜂鸣器不发声。

* 采用RS-232数据线输出,与PC连接。

* 提供蓝牙 Bluetooth 数据输出选择。

* 整体式仪器适合单手操作,具有“大探头”,大接触面具有稳定性,得到结果准确且重复性强的。